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2025-12-01
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
關(guān)鍵詞：鐵電薄膜、厚膜，陶瓷,電滯回線
核心功能
?電滯回線測(cè)試?：通過施加不同波形電壓信號(hào)，采集材料電荷或形變信號(hào)，分析材料的極化特性。 ?
?漏電流測(cè)量?：評(píng)估材料在電場(chǎng)下的電流泄漏情況，反映材料穩(wěn)定性。 ?
?剩余極化率測(cè)試?：測(cè)量材料斷電后的剩余極化強(qiáng)度，反映材料記憶特性。 ?
?擴(kuò)展功能?：部分型號(hào)支持 熱釋電 、 壓電 等聯(lián)合測(cè)試.
TDFE-5000A型是一款擴(kuò)展靈活的變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng)，也是一款可替代德國aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀的國產(chǎn)鐵電材料性能測(cè)試設(shè)備，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
鐵電參數(shù)測(cè)試主要性能指標(biāo)：
a. 外接5 kV高壓放大器（可擴(kuò)展至10 kV）（國產(chǎn)、進(jìn)口均適用）；
b. 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率范圍0.01 Hz ～ 5 kHz；
c. 最大電荷解析度：10 mC（可擴(kuò)展）；
d. 疲勞測(cè)試頻率300 kHz（振幅10 Vpp，負(fù)載電容1 nF）；
e. 漏電流測(cè)量范圍 1 pA ～ 20 mA（可擴(kuò)展），分辨率0.1 pA；
f. 配有高壓擊穿保護(hù)模塊；
g.溫度范圍：-160℃～260℃。
本測(cè)試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測(cè)試平臺(tái)（配鐵電測(cè)試盒）或高低溫探針臺(tái)（配高壓探針）、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動(dòng)電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能，主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口，可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能，測(cè)試時(shí)，無需改變測(cè)試樣品的連接，即可實(shí)現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV等性能測(cè)試。
本測(cè)試系統(tǒng)鐵電性能測(cè)試采用改進(jìn)的Sawyer- Tower測(cè)量方法，與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié)，容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度。
變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，不同的模塊對(duì)應(yīng)不同的電特性測(cè)量。測(cè)量功能如下，可按需選擇：
動(dòng)態(tài)電滯回線DHM
靜態(tài)電滯回線SHM
I-V特性
脈沖PUND
疲勞Fatigue
電擊穿強(qiáng)度BDM
漏電流LM
電流-偏壓
保持力RM
印跡印痕IM
變溫測(cè)試THM
可選的模塊：
POM 模塊實(shí)現(xiàn)極化測(cè)量功能
CVM模塊實(shí)現(xiàn)小信號(hào)電容測(cè)試，獲得C-V曲線
PZM模塊實(shí)現(xiàn)壓電特性測(cè)試
DPM模塊測(cè)試介電性能
RTM模塊測(cè)試電阻/電阻率性能
CCDM模塊實(shí)現(xiàn)電容充放電測(cè)試。
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