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JK-150BPE型半導(dǎo)體冷熱臺(tái)又稱帕爾貼冷熱臺(tái)，利用半導(dǎo)體的熱-電效應(yīng)制冷，配合循環(huán)水散熱，在 -30~150℃的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行控溫，實(shí)現(xiàn)樣品在開(kāi)放式 / 氣密 / 真空環(huán)境下的變溫光學(xué)、電學(xué)等測(cè)試。

半導(dǎo)體冷熱臺(tái)JK-120BCH采用半導(dǎo)體致冷，配合低溫循環(huán)液，實(shí)現(xiàn)從-40到180℃（選型）的控溫。 結(jié)構(gòu)緊湊，適用于各種變溫測(cè)試 氣密腔室設(shè)計(jì)，可通保護(hù)氣體 多探針測(cè)試 上位機(jī)軟件控制 支持改動(dòng)或定制

半導(dǎo)體冷熱臺(tái)JK-120BPE、BPE100采用半導(dǎo)體冷熱控制，配合循環(huán)水散熱，實(shí)現(xiàn)從-25~120℃（選型）的控溫。無(wú)需液氮等致冷劑，具有無(wú)噪聲、無(wú)振動(dòng)等特點(diǎn)?？梢詫?shí)現(xiàn)變溫光學(xué)測(cè)試，或者選配探針實(shí)現(xiàn)變溫電學(xué)測(cè)試。

探針冷熱臺(tái)JK-600C是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他電學(xué)儀表（如電橋、源表、萬(wàn)用表等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。

探針熱臺(tái)JK-600S是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他電學(xué)儀表（如電橋、源表、萬(wàn)用表等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。產(chǎn)品需要與溫度控制器配套使用，配套的上位機(jī)溫控軟件方便進(jìn)行溫度設(shè)置及采集，提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進(jìn)行定制化編程。

JKZC-UTS150微型冷熱腔是一種適配μTS拉伸臺(tái)的產(chǎn)品，包含拉伸、壓縮、三點(diǎn)彎模塊。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-100~50℃ (高溫以實(shí)際數(shù)據(jù)為準(zhǔn))溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測(cè)試。